SEM（扫描电镜，Scanning Electron Microscope）形貌观察是一种先进的材料分析技术，它利用聚焦的高能电子束扫描样品表面，并通过收集二次电子（SE）或背散射电子（BSE）等信号来生成高分辨率的图像，从而揭示样品的表面形貌和结构特征。

SEM形貌观察在材料科学、生物学、地质学等多个领域具有广泛的应用。通过SEM，研究人员可以直接观察到样品的微观结构，如颗粒、孔隙、裂纹等，这对于分析材料的表面粗糙度、晶粒形貌、表面缺陷以及其他与材料性质相关的表面特征至关重要。此外，SEM还可以提供关于样品成分和晶体结构的信息，这对于理解材料的化学组成和物理性质具有重要意义。

在SEM形貌观察中，二次电子成像（SEI）和背散射电子成像（BSEI）是两种常用的成像模式。SEI主要用于观察样品表面的细节和微观结构，因为SE信号主要来自样品表面，具有高分辨率。而BSEI则用于观察样品的相对密度变化和成分分布，因为BSE信号来自样品内部，可以提供更深入的成分信息。

SEM形貌观察不仅 限于平面样品，还可以对复杂的三维结构进行立体成像。通过倾斜样品台或旋转样品，研究人员可以从不同角度观察样品，从而更准确地理解其形貌和结构特征。