在当今世界，SEM扫描电子显微镜分析技术，一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段，主要应用在半导体、材料科学、生命科学和纳米材料等领域。
SEM扫描电镜分析原理该技术主要利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调；并且景深大，视野大，成像立体效果好。
电镜分析图 来源:优尔鸿信
此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。
SEM扫描电镜制样，相对来说较为简单，不需要过于复杂的处理过程，适用于各种类型的样品。
BGA电镜分析图 来源:优尔鸿信
高分辨率：SEM的分辨率比光学显微镜高得多，可以获得非常高的成像分辨率，通常可以达到亚微米甚至纳米级别的分辨率。
大视野：有很大的景深，视野大，成像富有立体感，SEM可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构，SEM也可以提供大视野的成像，可以同时获得样品的宏观形貌和微观结构信息。
连续可调放大倍数：SEM的放大倍数可以在较大的范围内连续可调，从而可以更加灵活地观察样品的不同细节。
SEM扫描电子显微镜，已经成为科研分析、产品质量控制的重要工具，广泛应用于各种领域，包括材料科学、生物学、地质学、医学和微电子等材料分析。
材料表面分析：SEM可以提供材料表面的高分辨率图像，这对于理解材料的微观结构和性能至关重要。例如，可以通过观察断口、磨损表面或腐蚀表面来研究材料的力学性能。
成分分析：配备能量色散X射线光谱仪（EDS）的SEM可以进行元素分析，这对于确定材料的化学成分和微观区域的元素分布非常有用。
纳米材料分析：由于SEM具有纳米级的分辨率，因此在纳米材料的研究中有广泛的应用，包括纳米颗粒、纳米纤维、纳米薄膜等，同时通过对材料的微观观察，可以优化材料的加工工艺，提高产品的质量和性能。
材料缺陷分析：SEM可以用于检测和分析材料中的微观缺陷，如裂纹、孔洞、夹杂、固体样品表面微区形貌观察、材料断口形貌及其内部结构分析、微粒或纤维形状观察及其尺寸分析、固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。
以上图片来自优尔鸿信华南检测中心，专 业扫描电镜分析实验室案例图像，后续分享场发射电镜、SEM在材料分析案例等，希望能够帮到更多正在攻关先进材料科研项目的企业朋友们。
