X射线的本质，实为一种波长极短的电磁辐射，拥有卓 越的穿透力。当它照射物体时，部分能量被物质吸收，而大部分射线则巧妙穿越原子间隙，历经衰减后，终被探测器捕获。随后，通过工作站的数据重建技术，精 准构建出三维模型。基于此，CT检测在电子行业已晋升为不 可或 缺的无损检测利器。

利用扫描数据，无论是微小零部件还是庞大整机，我们都能轻松实现其三维微观结构的全面扫描。进一步深入分析，可揭示样品内部的三维尺寸、孔隙度分布、密度变化、夹杂物详情（包括分布与大小）、裂缝、孔洞等关键信息，为电子零部件、整机及声学产品的质量评估提供坚实的数据支撑。

X射线检测系统的独特魅力在于，它能在不破坏样品完整性的前提下，以三维数字化的形式直观展现样品内部结构。如今，CT系统已成为消费电子行业中广泛应用的无损检测手段，贯穿于工艺研发、原材料检测、产品综合检验、复杂缺陷定位、高风险组件/模块检查、质量控制、生产线批量零件抽检及失效分析等各个环节。